Уніфіковані терморегульовані кpiocтатні системи “УТРЕКС” для мікрооптичних досліджень
|
|
“УТРЕКС” А-287
Застосовується в комплексі з оптичним мікроскопом типу Olympus BX41 для мікрооптичних досліджень у діапазоні температур 8 – 350 К.
Заявка на винахід знаходиться на розгляді УкрПатента і РосПатента.
|
Основні технічні характеристики:
|
|
| Діапазон температур |
8 – 350 К
(дискретність: < 0,1 К) |
| Стабільність температури |
±0,01 K |
| Діаметр тримача зразка |
15 мм |
| Кріоагенти |
рідкий He (8 – 350 К)
рідкий N2 (80 – 350 К) |
| Витрати He (при 10 K) |
< 0,1 л/год |
| Витрати N2 (при 80 K) |
< 0,2 л/год |
| Габаритні розміри |
590 х 313 х 160 мм |
| Маса |
< 8 кг
|
|
Застосування:
- матеріалознавство;
- фізика твердого тіла;
- біофізика і медицина.
|
|
“УТРЕКС” С-40
Кріостат проточного типу (He-N2) застосовується в комплексі з оптичними мікроскопами для досліджень в широкому діапазоні температур 40 – 1000 К.
Заявка на винахід знаходиться на розгляді УкрПатента і РосПатента.
|
Основні технічні характеристики:
|
|
| Діапазон температур |
40 – 1000 К
(дискретність: < 1K) |
| Стабільність температури |
±0,01 K |
| Діаметр тримача зразка |
15 мм |
| Кріоагенти |
рідкий He (40 – 350 К)
рідкий N2 (80 – 350 К)
без KA (350 – 1000 К) |
| Габаритні розміри: діаметр корпуса/висота |
< 150 мм/? 70 мм |
| Маса |
< 10 кг |
|
Застосування:
- матеріалознавство;
- фізика твердого тіла;
- біофізика і медицина.
|
|
“УТРЕКС” В-30
Застосовується в комплексі з растровим електронним мікроскопом типу РЭММА-102 для досліджень в інтервалі температур 5 – 300 К.
Заявка на винахід знаходиться на розгляді УкрПатента і РосПатента.
|
Основні технічні характеристики:
|
|
| Діапазон температур |
5 – 300 К
(дискретність: < 0,15К) |
| Час виходу на робочий режим (5 К) |
< 1 год. |
| Стабільність температури |
< 0.1 K |
| Діаметр тримача зразка |
15 мм |
| X-Y переміщення |
±7 мм |
| Габаритні розміри кріостата |
565 x 92 мм |
| Маса кріостата |
< 1,5 кг |
|
Застосування:
- матеріалознавство;
- фізика твердого тіла.
Розробник:
Лабораторія кріогенних технологій Інституту фізики НАН України (Жарков І.П.)
Контактна інформація:
тел. +380 44 525-98-41
ел. пошта: fesenko@iop.kiev.ua
Офіційний веб-сайт
